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精密超声波测厚仪CL400

日期：2024-08-06 14:20
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摘要：
精密超声波测厚仪CL400
德国K.K(KrautKramer)公司CL3&CL3 DL精密测厚仪具有更高的精度，更多的功能：
* 分辨率可达0.001mm，精密零件*
* 配合不同的探头使用时，既能满足一般测厚要求，又能测量薄壁工件、塑料及陶瓷制品
* 背光采用场致发光显示，更加明亮清晰
* 用户自定义厚度上下极限，读数超出后仪器自动报警
* 德国K.K公司CL400精密测厚仪在此基础上另有附加功能
技术参数
操作原理
测量范围


材料声速
显示刷新率
显示
分辨率


操作时间
操作温度
电源
自动关机
尺寸
重量
数据存储
接口		 超声脉冲回波法
接触探头方式：2到381毫米(钢)
延迟探头方式：0.25到25毫米(钢)
塑料探头方式：从0.13毫米开始
254到15000米/秒
4Hz
4位数LCD带背光，数字高度12.7mm
接触探头方式：0.01,0.1毫米
延迟探头方式：0.001,0.01毫米
塑料探头方式：0.001,0.01毫米
无背光情况下大于35小时
－10℃到50℃
3节1.5V AA碱性电池
不用后3.5分钟
165×72×41mm(H×W×D)
包括电池400克
1200个读数，99组文件(CL3DL)
RS232C，SPC(CL3DL)